SRAM內(nèi)存技術簡述
來源: 日期:2023-04-25 15:03:43
存儲器大致可分為兩類:非易失性和易失性。非易失性存儲器可以通過數(shù)百萬次電源循環(huán)來存儲其內(nèi)容。內(nèi)存中的內(nèi)容會一直保留,直到它們被有意擦除或覆蓋。非易失性存儲器的兩個示例是閃存和HDD。相比之下,易失性存儲器在電源循環(huán)后會丟失其內(nèi)容。兩種常見類型的易失性存儲器是SRAM和DRAM。
雖然SRAM和DRAM都是易失性的,但DRAM通常速度較慢,因為它的實現(xiàn)方式。在DRAM中,每個位都使用電容器存儲。由于電容器會失去電荷,除非在板上連續(xù)施加電位差,因此需要定期刷新DRAM以防止數(shù)據(jù)丟失。這種定期刷新會導致高延遲,從而導致內(nèi)存變慢。
另一方面,
SRAM不使用電容器來存儲數(shù)據(jù)。相反,它使用多個晶體管(稱為SRAM單元)來存儲位??梢允褂梦痪€和字線網(wǎng)格寫入和讀取SRAM。
要寫入一個典型的SRAM單元,相關的位線根據(jù)所需的值分別被驅(qū)動為低電平或高電平,然后世界線被驅(qū)動為高電平。要從典型的SRAM單元讀取數(shù)據(jù),兩條位線都被驅(qū)動為高電平,然后是世界線被驅(qū)動為高電平。這樣,SRAM就可以區(qū)分讀取和寫入操作。
對于智能手機等嵌入式和移動計算應用,設計人員使用SRAM,它盡可能節(jié)能以延長設備的電池壽命。由于漏電流,功耗可以是主動的或被動的。在SRAM中,寄生電容導致電荷在存儲器電路中進出移動,從而導致有功功率耗散。
本文關鍵詞:SRAM
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